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OLED 器件光谱仪扫描式IVL、寿命测量

OLED 器件光谱仪扫描式IVL、寿命测量

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多片OLED器件IVL自动测试系统

多片OLED器件IVL自动测量系统在仅需大批量IVL测试而无需视角测试的情况下,工位可以灵活配置。如下述机型:①多工位常温IVL测试 ②多工位常温IVL测试+1个工位视角测试③多工位常温IVL测试+1个工位高低温控IVL测试等多种组合配置。

多片带视角OLED器件IVL自动测试系统

多片带视角OLED器件IVL自动测量系统主要应用于OLED材料和OLED屏体生产工厂,满足客户大批量的OLED器件的IVL特性和亮度视角特性测试需求。系统特点1.大批量器件的测试系统配有多通道电路选择器,可支持多达24片共96个发光点的OL···

简易单工位OLED器件IVL及视角测试系统

简易单工位OLED器件IVL及视角测量系统对于OLED科研类机构用户,仅考虑测试功能和精度,不考虑测试效率的情况下,可选择单工位的IVL及视角测试系统。与多工位机台相比,仅保留一个带视角的工位和治具,机台尺寸更紧凑。同时可取消选配工业视觉对···

可置于手套箱内的紧凑型OLED器件IVL及视角测试系统

可置于手套箱内的紧凑型OLED器件IVL及视角测试系统三轴直线移动+一轴夹具旋转IVL测试机台的尺寸设计紧凑,可置于手套箱内进行器件的IVL和视角测试。测量功能:IVL及余玄朗伯图测试系统(内置手套箱内,用于未封装器件测试)。

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